多層陶瓷電容器的測(cè)試、老化/抗老化處理

MLCC（多層陶瓷電容器）是電子行業(yè)使用最普遍的電容器。I 類陶瓷電容器（即NP0, C0G）為共振電路提供高穩(wěn)定性和低損耗，但提供的容積效率低。它們不需要任何老化校正。II 類和 III 類（X7R、X5R）提供高容積效率，但提供的穩(wěn)定性比 I 類電介質(zhì)低。有時(shí)候，這些電容器會(huì)超出制造商的判定時(shí)間，就可能需要老化校正。判定時(shí)間指的是制造商認(rèn)為電容器在指定容差范圍內(nèi)的時(shí)間框架。

測(cè)試

由于存在內(nèi)部阻抗，大多數(shù) LCR 表無(wú)法測(cè)試高值（1 μF 及更高）MLCC。阻抗低至 1 Khz，實(shí)際上會(huì)汲取電表供應(yīng)的電流，最終將指定電壓降至 0，從不允許電容器暴露于所需的電壓下進(jìn)行測(cè)試。要進(jìn)行驗(yàn)證，在使用真正的 RMS 表進(jìn)行測(cè)試的情況下測(cè)量通過(guò)電容器的電壓。如果電壓低于 0.4 VRMS，電容讀數(shù)將較低。選擇阻抗與被稱為自動(dòng)電平控制 (ALC) 的功能相匹配的 LCR 表。這些電表將降低其自身的阻抗，直到其低于所測(cè)試的設(shè)備。通常，這仍是不夠的，需要放大器裝置來(lái)提高通過(guò)電容器的電流，直到通過(guò)它的電壓從 0.5 VRMS-1 VRMS 達(dá)到預(yù)設(shè)水平。

老化
分類為具有高介電常數(shù)的電容器的電容將隨時(shí)間推移減小。這通常以每十年的百分比下降表示。溫度補(bǔ)償電容器（I 類）不具有老化特性。

抗老化

如果老化對(duì)電容器造成了影響，可以通過(guò)將其加熱到 Curie 溫度以上來(lái)反轉(zhuǎn)。大多數(shù)制造商規(guī)范的 Curie 溫度約為 125°C 或以上，該溫度通常在焊接過(guò)程達(dá)到。務(wù)必在進(jìn)行此嘗試前檢查制造商的規(guī)范。將電容器加熱到 Curie 溫度以上會(huì)調(diào)整介質(zhì)材料的分子結(jié)構(gòu)，從而恢復(fù) MLCC 電容。電容測(cè)量值在此時(shí)通常較高，操作人員應(yīng)等到裁判時(shí)間過(guò)去，以使電容器再次處于規(guī)范容差范圍內(nèi)。電容器冷卻后，老化過(guò)程將重新開(kāi)始。

編輯：admin  最后修改時(shí)間：2018-03-28