mosfet器件選型需掌握的3大法則及知識理解與應用詳解
mosfet器件選型需掌握的3大法則及知識理解與應用詳解
mosfet器件概述
mosfet器件,金屬-氧化物半導體場效應晶體管,簡稱金氧半場效晶體管。是一種可以廣泛使用在模擬電路與數(shù)字電路的場效晶體管(field-effect transistor)。MOSFET依照其“通道”(工作載流子)的極性不同,可分為“N型”與“P型”的兩種類型,通常又稱為NMOSFET與PMOSFET,其他簡稱上包括NMOS、PMOS等。
mosfet器件的結構
M-Metal-導體,O-Oxide-氧化物(絕緣體),S-Semiconductor-半導體,F(xiàn)-Field,E-Effect,T-Transistor -場效應晶體管。前三個字母反應了它的結構,MOSFET就是由導體-氧化物-半導體三層結構組成的器件,而后三個字母則反應了他的工作特性,它是一個感應電壓的晶體管。
圖1 MOSFET的結構
第一眼看到圖1會感覺有些復雜,沒關系不要緊,我們從簡單的一點點來分析,首先看圖2,這是一個簡單的我們假想的半導體器件,雖然是假想的,但是不妨礙我們對其原理進行理解。這個我們意淫的器件同樣是由導體、絕緣體、半導體三層結構組成,這個半導體是P型摻雜的還是N型摻雜的我們先不管,這里我們以P型摻雜的半導體為例。
圖2 一個簡單的假想的半導體器件
圖3左圖,如果我們在導體和半導體兩端加電壓V1,因為有絕緣體在中間整個器件沒有電流通過,但此時你有沒有發(fā)現(xiàn)這個器件就是一個電容,導體和電源正極相連帶正電荷,P型摻雜的半導體本來能用來導電的自由電子很少,但由于和電源負極相連,自由電子都聚集到和絕緣體相接的表面。這個自由電荷聚集的區(qū)域我們稱為溝道,此時,溝道中沒有電流,只有電荷,其電荷數(shù)量為。
圖3 加電壓
這里的V就是V1,C就是導體和半導體形成的電容,知道了這個原理,我們可以得到下面兩點初步的認識:
①當V1變大,電荷數(shù)量Q變大,溝道中自由電荷的密度增大;
②當絕緣體的厚度t_ox下降,則電容C變大,電荷數(shù)量變大,溝道中自由電荷的密度增大。
看圖3右圖,當在溝道的兩端加電壓V2,因為溝道中本身存在可以自由移動的電子,此時在溝道中就形成了電流。當V1增大時,電荷密度增加,導致溝道兩端之間的電阻變小,導致電流增大。
有了上面的理論基礎我們回過頭來再看圖1,是不是感覺親切了很多,但是和圖3相比,圖1有四點值得注意:
①該器件在下面的P型半導體基板上注入了兩塊重摻雜的N型半導體。這是因為N型半導體能提供自由電子,對溝道中的電流傳導有好處;
②所有的電壓都是在上面加的,這是因為所有的MOSFET器件是做在晶圓上的,晶圓片的示意圖如圖4,其中藍色的小方格表示一個個小器件,所以,電壓只能從上面加,不可能從側(cè)邊和下面加。
圖4 晶圓片示意圖
③圖3有圖有4個端口,即V1的兩個端口和V2的兩個端口,而圖1只有源級S、漏極D和柵極G三個端口,這是因為習慣上把最下面的半導體基板作為參考電壓為零,沒有畫出來。而且受源級S、漏極D和柵極G三個端口電壓的影響,溝道兩邊的電壓是不均勻的,靠近源級一側(cè)的電壓為V_GS,而靠近漏極一側(cè)的電壓為V_GD。
④MOSFET器件是對稱的,哪一端是源級,那一端是漏極呢?對于圖1的MOSFET(NMOS)來說,兩個N型摻雜半導體上加電壓低的一端是源級,這是因為NMOS靠電子導電,從電壓低的一端流到電壓高的一端,電壓低的一端為電子的“源泉”。
mosfet器件的電學符號和電學特性
(一)電學符號
圖5 左為物理結構,右為電學符號
圖5中左圖為MOSFET的物理結構,右圖為其電學符號,這里我畫了4個是為了無論這個符號在電路圖中怎么擺放,大家都應該認識。這里要大家特別注意的是:符號中的箭頭不是柵極或漏極的標志,因為MOSFET是對稱的,哪一端是漏極或柵極需要看所加電壓的大小。這里的箭頭只是區(qū)別NMOS還是PMOS,NMOS箭頭向外如圖中所示,PMOS箭頭向里。一個簡單的記憶方法是,箭頭總是從P型半導體指向N型半導體(和二極管的箭頭類似)。
(二)電學特性
研究一個器件最直接的一種方法就是在各個端口加電壓,然后看看各個端口電流的一些性質(zhì),也就是研究該器件各個端口的伏安特性曲線。
Case I:如圖6,在MOSFET柵極加電壓,V_G>0,V_S=V_D=0。此時在溝道中聚集了電荷,電荷密度會隨著V_G的增大而增大,但是沒有電流。
圖6 Case I
Case II:如圖7,在MOSFET柵極和漏極加電壓,V_G>0,V_D>0,V_S=0。此時,V_G試溝道聚集了電荷,當V_G>V_TH時,電荷數(shù)量聚集達到一定程度,再當V_D>0時,在電壓的驅(qū)動下自由電荷運動形成電流。
圖7 Case II
伏安特性:① 當V_G>V_TH為常數(shù)時,從直觀上來看流過溝道的電流I_D隨著V_D的增大而增大。② 當V_D為常數(shù)時,因為V_G越大,溝道中聚集的電子數(shù)量越多,相當于從溝道一端到另一端的電阻越小,那么從直觀上來看流過溝道的電流I_D也會增大。
mosfet器件選型需掌握的3大法則
mosfet器件恐怕是工程師們最常用的器件之一了,但你知道嗎?關于MOSFET的器件選型要考慮各方面的因素,小到選N型還是P型、封裝類型;大到MOSFET的耐壓、導通電阻等,不同的應用需求千變?nèi)f化,下面會總結一些MOSFET器件選型的3大法則,希望對大家有幫助。
(一)功率MOSFET選型第一步:P溝道還是N溝道?
功率MOSFET有兩種類型:N溝道和P溝道,在系統(tǒng)設計的過程中選擇N溝道還是P溝道,要針對實際的應用具體來選擇。N溝道MOSFET選擇的型號多,成本低;P溝道MOSFET選擇的型號較少,成本高。
如果功率MOSFET的S極連接端的電壓不是系統(tǒng)的參考地,N溝道就需要浮地驅(qū)動、變壓器驅(qū)動或自舉驅(qū)動,驅(qū)動電路復雜;P溝道可以直接驅(qū)動,驅(qū)動簡單。
需要考慮N溝道和P溝道的應用主要是:
(1)筆記本電腦、臺式機和服務器等使用的給CPU和系統(tǒng)散熱的風扇,打印機進紙系統(tǒng)電機驅(qū)動,吸塵器、空氣凈化器、電風扇等白家電的電機控制電路。這些系統(tǒng)使用全橋電路結構,每個橋臂可以使用P溝道或者N溝道。
(2)通信系統(tǒng)48V輸入系統(tǒng)的熱插撥MOSFET放在高端,可以使用P溝道,也可以使用N溝道。
(3)筆記本電腦輸入回路串聯(lián)的、起防反接和負載開關作用的兩個背靠背的功率MOSFET。使用N溝道需要控制芯片內(nèi)部集成驅(qū)動的充電泵,使用P溝道可以直接驅(qū)動。
(二)選取封裝類型
功率MOSFET的溝道類型確定后,第二步就要確定封裝,封裝選取原則有:
(1)溫升和熱設計是選取封裝最基本的要求
不同的封裝尺寸具有不同的熱阻和耗散功率,除了考慮系統(tǒng)的散熱條件和環(huán)境溫度,如是否有風冷、散熱器的形狀和大小限制、環(huán)境是否封閉等因素,基本原則就是在保證功率MOSFET的溫升和系統(tǒng)效率的前提下,選取參數(shù)和封裝更通用的功率MOSFET。
有時候由于其他條件的限制,需要使用多個MOSFET并聯(lián)的方式來解決散熱的問題,如在PFC應用、電動汽車電機控制器、通信系統(tǒng)的模塊電源次級同步整流等應用中,都會選取多溝道并聯(lián)的方式。
(2)系統(tǒng)的尺寸限制
有些電子系統(tǒng)受制于PCB的尺寸和內(nèi)部的高度,如通信系統(tǒng)的模塊電源由于高度的限制通常采用DFN5*6和DFN3*3的封裝;在有些ACDC的電源中,由于使用超薄設計或由于外殼的限制,裝配時TO220封裝的功率MOSFET溝道腳直接插到根部,由于高度的限制不能使用TO247的封裝。
有些超薄設計直接將器件溝道腳折彎平放,這種設計生產(chǎn)工序會變復雜。在大容量的鋰電池保護板中,由于尺寸限制極為苛刻,現(xiàn)在大多使用芯片級的CSP封裝,盡可能提高散熱性能同時縮小尺寸。
(3)成本控制
早期很多電子系統(tǒng)使用插件封裝,這幾年由于人工成本增加,很多公司開始改用貼片封裝,雖然貼片的焊接成本比插件高,但是貼片焊接的自動化程度高,總體成本仍然可以控制在合理的范圍。在臺式機的主板和板卡等一些對成本極其敏感的應用中,通常采用DPAK封裝的功率MOSFET。
因此在選擇功率MOSFET的封裝時,要結合產(chǎn)品的特點,綜合考慮上面因素選取適合的方案。
(三)選取導通電阻RDSON,注意:不是電
很多時候工程師關心RDSON,是因為RDSON和導通損耗直接相關。RDSON越小,功率MOSFET的導通損耗越小;效率越高、溫升越低。
同樣的,工程師盡可能沿用以前項目中或物料庫中現(xiàn)有的元件,對于RDSON的真正選取方法并沒有太多的考慮。當選用的功率MOSFET的溫升太低,出于成本的考慮,會改用RDSON大一些的元件;當功率MOSFET的溫升太高、系統(tǒng)的效率偏低,就會改用RDSON小一些的元件,或通過優(yōu)化外部的驅(qū)動電路,改進散熱的方式等來進行調(diào)整。
如果是一個全新的項目,沒有以前的項目可循,那么如何選取功率MOSFET的RDSON?這里介紹一個方法給大家:
功耗分配法
當設計一個電源系統(tǒng)的時候,已知條件有:輸入電壓范圍、輸出電壓/輸出電流、效率、工作頻率和驅(qū)動電壓,當然還有其他的技術指標,但和功率MOSFET相關的主要是這些參數(shù)。步驟如下:
(1)根據(jù)輸入電壓范圍、輸出電壓/輸出電流和效率,計算系統(tǒng)的最大損耗。
(2)對功率回路的雜散損耗、非功率回路元件的靜態(tài)損耗、IC的靜態(tài)損耗以及驅(qū)動損耗做大致的估算,經(jīng)驗值可以占總損耗的10%~15%。如果功率回路有電流取樣電阻,則計算電流取樣電阻的功耗?倱p耗減去上面的這些損耗,剩下部分就是功率器件、變壓器或電感的功率損耗。將剩下的功率損耗按一定的比例分配到功率器件和變壓器或電感中,不確定的話,按元件數(shù)目平均分配,這樣就得到每個MOSFET的功率損耗。
(3)將MOSFET的功率損耗,按一定的比例分配給開關損耗和導通損耗,不確定的話,平均分配開關損耗和導通損耗。
(4)通過MOSFET導通損耗和流過的有效值電流,計算最大允許的導通電阻,這個電阻是MOSFET在最高工作結溫的RDSON。數(shù)據(jù)表中功率MOSFET的RDSON標注有確定的測試條件,在不同的既定條件下具有不同的值,測試的溫度為:TJ=25℃,RDSON具有正溫度系數(shù),因此根據(jù)MOSFET最高的工作結溫和RDSON溫度系數(shù),由上述RDSON計算值,得到25℃溫度下對應的RDSON。
(5)通過25℃的RDSON來選取型號合適的功率MOSFET,根據(jù)MOSFET的RDSON實際參數(shù),向下或向上修整。通過以上步驟,就可以初步選定功率MOSFET的型號和RDSON參數(shù)。